• 简体   /   繁体
基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化-现代电子技术2024年02期

基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化

作者:沈锺杰 张一圣 孔锐 王建超 字体:      

摘  要: 利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介(试读)...

现代电子技术

2024年第02期